Mikroskopische Untersuchung rauer und glatter Oberflächen Schnelle Messungen im Sekundenbereich Schnelles Umschalten auf verschiedene Objektive Laterale Auflösung ca. 1 µm Vertikale Auflösung < 1 nm Messergebnis unabhängig von Farbe und Material der Oberfläche Wartungsfreiheit und robuster Aufbau prädestinieren den Einsatz in der Fertigung Dieses Meßinstrument ist in mehreren Ausführungen und mit weiteren Optionen lieferbar. Als preisgünstige Meßanlage für Standardanwendungen; mit Interferenz- und Standardobjektiven zur Nutzung als normales Mikroskop; mit zusätzlichem optischem konfokalem Punktsensor zur Oberflächenprofilerfassung größerer Flächen; mit einem Rauheitsmeßtaster zum Vergleich der optischen mit einer taktilen Messung nach gängiger Norm; mit Lichtquellen unterschiedlicher Farbe; mit Präzisionsverfahrschlitten oder luftgelagerten Schlitten; mit xy- oder Rundtisch; mit einer Kamera gemäß kundenspezifischer Meßaufgabe; mit vollautomatischem Probenjustiertisch. Gerne beraten wir Sie unverbindlich. Technische Daten Messkopf (Richtwerte) Alle hier angegebenen Daten können ohne weitere Hinweise geändert werden. Unsere Instrumente werden den Kundenanforderungen angepasst soweit möglich. Messkopf (Richtwerte) Alle hier angegebenen Daten können ohne weitere Hinweise geändert werden. Unsere Instrumente werden den Kundenanforderungen angepasst soweit möglich. Lichtquellen LEDs Mess-/Fokussierbereich mit integriertem Motor, ca. [mm] 15 Mess-/Fokussierbereich mit Piezoaktuator, ca. [µm] 200 Auflösung vertikal [nm] < 0,1 Bildgröße (Kameras werden gemäß Kundenanforderung ausgesucht) [Pixel] 1400 x 1000 Dynamik, max. ca. [bit] 14 Objektivrevolver 3x – 6x, anwenderabhängig. Motorisierter Revolver verfügbar. Motorisierte Kopfverfahrung verfügbar. Verfahrschlitten Verfahrweg (x,y,z), gemäß Kundenspezifikation [mm] 50 – 300 oder mehr Schrittweite, ca. [µm] 1 Ebenheit / 50mm, ca. [µm] 1 Objektive (andere auf Anfrage) Vergrößerung NA Arbeitsabstand Messfläche, ca. Auflösung lateral ca. [mm] [mm] [µm2] [µm2] x 2,5 <0,01 10,3 5000 x 4500 < 10 x 5 0,13 9,3 2500 x 2200 < 5 x 10 0,3 7 1250 x 1100 < 2 x 20 0,4 5 640 x 550 < 1 x 50 0,55 3,4 250 x 250 < 1 x 100 0,7 2 100 x 100 < 0,5 Software Meß- und Auswertesoftware for Standard- und wissenschaftl. Anwendungen.Kundenspezifische Module auf Anfrage.Auswertung: Einhüllende und Phase, Stitching, Autofokus sind Standard. Einzigartige Doppelbelichtungsfunktion.Alle technischen Daten ohne Gewähr. Rillenmuster 10µm – 1mm Texturiertes Blech Einspritzdüse, Krümmung Mikromechanische Schwinggabel Applikationsberichte Untersuchung von Edelstahl mit unterschiedlicher Oberflächenbehandlung Tags: WeißlichtinterferometerWLI
