WLI Lab - Untersuchung rauer und glatter Oberflächen Mikroskopische Untersuchung rauer und glatter Oberflächen Schnelle Messungen im Sekundenbereich Schnelles Umschalten auf verschiedene Objektive Laterale Auflösung ca. 1 µm Vertikale Auflösung < 1 nm Messergebnis unabhängig von Farbe und Material der Oberfläche Wartungsfreiheit und robuster Aufbau prädestinieren den Einsatz in der FertigungTags: WeißlichtinterferometerWLI
