Fehlermeldung

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WLI

WLI Lab - Untersuchung rauer und glatter Oberflächen

Weißlichtinterferometer
  • Mikroskopische Untersuchung rauer und glatter Oberflächen
  • Schnelle Messungen im Sekundenbereich
  • Schnelles Umschalten auf verschiedene Objektive
  • Laterale Auflösung ca. 1 µm
  • Vertikale Auflösung < 1 nm
  • Messergebnis unabhängig von Farbe und Material der Oberfläche
  • Wartungsfreiheit und robuster Aufbau prädestinieren den Einsatz in der Fertigung
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